掃描電子顯微鏡 SEM3100

掃描電子顯微鏡SEM3100

SEM3100具有出色的成像質量和豐富的擴展性，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發(fā)揮到極致。分辨率可達3 nm，超大樣品倉，可容納最大直徑為370 mm的樣品，以及諸多細節(jié)功能設計和特色功能，助您在顯微成像的世界中盡情探索。

高性能高指標

SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有超高的分辨率和出色的成像質量。放大倍率連續(xù)可調，在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的超大樣品倉和低電壓模式，極大地擴展了SEM3100的應用范圍。

分辨率3 nm @ 30kV, SE

放大倍率1 x～300,000 x

圖像保存最大像素，6144 x 4096

加速電壓1 kV ~ 30 kV

最大樣品尺寸直徑370 mm，高73 mm

出色的成像效果

低電壓

大視場、大景深、超大樣品倉

聚丙乙烯微球

濾紙

泡沫鎳基底

微流控芯片

三元正極

電極箔截面

豐富的擴展性

掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、能譜儀（EDS）外，也預留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）、陰極熒光（CL）等探測器都可以在SEM3100上進行集成。

背散射探測器

二次電子成像和背散射成像對比。背散射像下，樣品的荷電效應明顯減弱，并且具有很好的成分襯度，適合進行成分觀察。

能譜分析

水泥建筑材料SE和EDS分析結果，加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層

特色功能，更高的效率和更好的性能

光學導航

SEM3100標配的倉內攝像頭可拍攝高清樣品臺照片，助您快速定位樣品

旋鈕控制板和鼠標手勢

可通過旋鈕控制板或鼠標滾輪/手勢快速調節(jié)聚焦和像散等參數(shù)，極大地提高成像效率。

動態(tài)像散

直觀反映像散程度，通過鼠標點擊即可快速調節(jié)像散至最佳。

快速調節(jié)圖像旋轉

拖動一條線，圖像立刻“擺正角度”。

細節(jié)設計，追求最佳的易用性

人性化的軟件設計

所有控制功能集成在一個軟件界面上，純中文的操作界面，功能設計簡單易懂。無論是否有經驗的用戶，簡單的了解后都可以快速上手。

30分鐘自動休眠

30分鐘無操作，SEM3100會自動進入休眠模式，停止掃描并將電子束關閉，減少燈絲損耗，延長使用壽命。

換樣方便

拉開式倉門，給換樣操作留出寬闊的空間。也為倉內清潔維護提供了方便

面板功能按鈕

機身正面設計的啟動和放氣按鈕組合可快速換樣，拍樣完成后按下待機按鈕可一鍵待機！、

優(yōu)中心樣品臺和真空電機

支持優(yōu)中心傾斜①樣品始終處于電子束下方，不同傾斜角度下，可獲取更豐富的形貌和成分信息。同時倉內真空電機②簡化了傳動結構，減少了真空漏氣可能性。

燈絲狀態(tài)自動監(jiān)測

自動檢測燈絲使用時間，以及燈絲工作狀態(tài)。讓您測樣和實驗安排“心中有數(shù)”。

防碰撞技術

采取多維度的防碰撞方案：1. 手動輸入樣品高度，精準控制樣品與物鏡下端距離，防止發(fā)生碰撞；2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術，運動過程中對倉內的實時畫面進行監(jiān)測；3. 樣品臺硬件防碰撞，可在碰撞一瞬間停止電機，減少碰撞損傷。

三級減震

創(chuàng)新性的三級減震設計，可較好的過濾來自地面?zhèn)鱽淼牡皖l震動。同時，通過良好的工程設計，大幅減少了SEM3100自身運行產生的震動。

參數(shù)